產品中心
PRODUCTS CNTER
相關文章
漫反射率測試系統光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）,漫反射率測試系統光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
更新時間：2025-12-24
產品型號：S-MRS系列
瀏覽量：2636
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類