產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供優質的系統解決方案。
相關文章
結合創新型的光學器件設計，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750 可以配用多種附件，拓展應用領域， 在透射/ 反射/ 吸收光譜、Raman 光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供*佳的系統解決方案。
SR-750超高分辨率光譜儀技術參數：
| 型號 | Shamrock 750 |
| 焦距長度 | 750mm |
| 通光孔徑（F/#） | F/9.8 |
| 焦平面尺寸 | 30mm×14mm |
| 光譜分辨率 @1200l/mm,500nm | 0.04nm |
| 光柵塔輪 | 三光柵 |
| 自動聚焦 | – |
| TruResTM 分辨率增強選項 | – |
| 波長精度 | 0.03nm |
| 波長重復精度 | 10pm |
不同光柵對應的分辨率及覆蓋帶寬：
綠色： 無限制自由使用區域；黃色： 可能對系統分辨率產生影響； 紅色： 對系統分辨率有影響
光柵效率曲線
簡單四步選擇光譜儀配置：
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表